定义
一种使用光电导开关进行光学采样的技术。
光电导采样是一种基于光导开关的光学采样技术。 在这样的开关上，超短激光脉冲可以在很短的时间内关闭电气连接。 第二个光电导开关（由延迟激光脉冲驱动）可用于在不同位置对结果信号进行采样：开关仅在非常短的时间间隔内将电路的相应部分与某些输出引线连接，其时间位置可以通过光延迟线进行调整。
另一种采样技术是电光采样。 与此相比，光电导采样的主要优点是允许产生更高频率的信号（即使没有非常快速的电气连接）并以更高的空间分辨率运行，但它通常需要在测试点制造光电导开关（即使已经证明了自由移动的外部探头），并且不能用于测量导体外部的电场。
参考文献
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