数字面型检测仪是一种新型的高精度光学元件检测仪，其基本原理是基于非干涉相位恢复算法测量相位变化，进而实现光学元件、硅片、金属元件的面型检测或光学元件的相位透射率分布测量。这是首次将基于相位调制的波前恢复算法用于光学元件检测。
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产品特点
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产品应用
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技术参数
| 探测CCD像素尺寸 | 5.5 μm | 测量时间 | < 20 s （GPU硬件加速） |
| 光斑采样数 | 4096×4096 | 测量口径 | Φ50 - Φ100 mm |
| 工作波长 | 632.8 nm | 输出数据格式 | txt/jpg/tif/bmp… |
| 测量范围 | λ/10 - 3λ (PV) | 系统软件工作环境 | 可提供配套高性能工作站，达到最佳使用效果 |
| 测量精度 | 1/10 λ (PV) | 工作环境 | 可用于车间等工程应用环境检测，可定制支撑装置 |
| 描述 | 探测CCD像素尺寸 | 光斑采样数 | 文件 | 单价 | 购物车 | |
| 数字面型检测仪 | 5.5 μm | 4096×4096 |
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