Z 扫描测量 z-scan measurements

2022-10-21 11:21:29 浏览:241

定义

一种依靠自聚焦测量材料Kerr非线性强度的技术。

Z 扫描测量技术[1,2]通常用于测量Kerr非线性的强度(即非线性指数的大小 n2) 的光学材料。从本质上讲,被研究材料的样品通过激光束的焦点移动,并且光束半径(或轴上强度)作为样品位置的函数在焦点后面的某个点进行测量。这些量受自聚焦效应的影响。如果非线性指数为正,并且样品位于焦点后面(如图1所示),则自聚焦会减少光束发散,从而增加检测器信号。如果将样品移动到焦点的左侧,则焦点将向左移动,焦点后较强的散度会降低检测器信号。根据检测器信号对样品位置的测量依赖性,可以计算出非线性指数的大小。

图 1:设置 z 扫描测量。通过孔径的透射率是作为样品位置的函数来测量的。左侧探测器用于监测入射脉冲能量。

请注意,非线性吸收,例如双光子吸收,也会影响测量信号。然而,这可以通过记录整个发射光束的功率来单独测量。有了这些数据,非线性的测量就可以得到纠正。

参考文献

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非线性光学

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